分(fen)光光度計(ji)

分(fen)光光度計(ji)原(yuan)理：

分(fen)光光度計(ji)采用(yong)壹個可(ke)以(yi)產生(sheng)多(duo)個波長(chang)的(de)光源(yuan)，通(tong)過(guo)系(xi)列(lie)分(fen)光裝(zhuang)置(zhi)，從而產生(sheng)特定(ding)波長(chang)的(de)光源(yuan)，光線透過(guo)測試的(de)樣品(pin)後，部(bu)分(fen)光線被(bei)吸收，計(ji)算樣品(pin)的(de)吸光值(zhi)，從而轉化成(cheng)樣(yang)品(pin)的(de)濃度。樣(yang)品(pin)的(de)吸光值(zhi)與樣(yang)品(pin)的(de)濃度成(cheng)正比。

單色(se)光輻射(she)穿(chuan)過(guo)被(bei)測物質溶液(ye)時(shi)，被(bei)該(gai)物(wu)質吸收的(de)量與該(gai)物(wu)質的(de)濃度和(he)液(ye)層的(de)厚度（光路(lu)長(chang)度）成(cheng)正比，其(qi)關(guan)系(xi)如(ru)下(xia)式(shi)：

A=-lg(I/I。)=-lgT=kLc

式(shi)中(zhong) :A 為(wei)吸光度；

I。為入(ru)射(she)的(de)單色光強(qiang)度；

I 為透射(she)的(de)單色光強(qiang)度；

T 為物(wu)質的(de)透射(she)率；

k 為摩爾(er)吸收系數(shu)；

L 為被(bei)分(fen)析物質的(de)光程，即(ji)比色(se)皿(min)的(de)邊(bian)長；

c 為物(wu)質的(de)濃度；

物質對光的(de)選(xuan)擇性吸收波長(chang)，以(yi)及(ji)相應(ying)的(de)吸收系數(shu)是(shi)該(gai)物質的(de)物理常數(shu)。當已知某純物(wu)質在壹定(ding)條(tiao)件(jian)下的(de)吸收系數(shu)後可(ke)用(yong)同樣條(tiao)件(jian)將(jiang)該供試品(pin)配成(cheng)溶(rong)液(ye)，測定(ding)其(qi)吸收度,即(ji)可(ke)由(you)上式(shi)計(ji)算出(chu)供(gong)試品(pin)中(zhong)該(gai)物質的(de)含量。在(zai)可(ke)見(jian)光區，除(chu)某些物質對光有吸收外，很多(duo)物質本(ben)身並(bing)沒(mei)有吸收但可(ke)在(zai)壹定(ding)條(tiao)件(jian)下加(jia)入(ru)顯(xian)色試(shi)劑或經(jing)過(guo)處(chu)理使(shi)其(qi)顯(xian)色後(hou)再測定(ding),故(gu)又稱比色(se)分(fen)析。由(you)於顯(xian)色時(shi)影(ying)響(xiang)呈色深淺的(de)因素較(jiao)多(duo)，且常(chang)使(shi)用(yong)單(dan)色(se)光純度(du)較差的(de)儀器(qi)，故(gu)測定(ding)時(shi)應(ying)用(yong)標(biao)準品(pin)或對(dui)照品(pin)同時操(cao)作。

特點(dian)：
*的(de)雙(shuang)光路(lu)、雙(shuang)光束光學(xue)系統(tong)，儀器(qi)分(fen)辨率更高(gao)，雜散光更低(di)，穩定(ding)性、可(ke)靠性更強(qiang)，分(fen)析更加(jia)準確(que)
采用(yong)320*240位(wei)點(dian)陣(zhen)式(shi)高(gao)亮6 ”液(ye)晶顯(xian)示(shi)器(qi)，顯(xian)示(shi)清(qing)晰(xi)，信息(xi)完備(bei)
*的(de)長光程光路(lu)設(she)計(ji)，使(shi)儀器(qi)分(fen)辨率更高(gao)，尤(you)其(qi)適合(he)微(wei)量測試 強(qiang)大的(de)數據處(chu)理功能(neng)，使(shi)測試結果能(neng)得(de)到充分(fen)的(de)應(ying)用(yong)，用(yong)戶編輯更(geng)為(wei)簡單快捷(jie)
采(cai)用(yong)懸(xuan)架(jia)式(shi)光學(xue)系統(tong)設(she)計(ji)，整(zheng)體(ti)光路(lu)獨立固定(ding)在(zai)16mm厚(hou)的(de)鋁制(zhi)無(wu)變(bian)形(xing)基(ji)座(zuo)上，底(di)板的(de)變形和(he)外界(jie)的(de)震動對(dui)光學(xue)系統(tong)不(bu)產生(sheng)任(ren)何(he)影(ying)響(xiang)，從而大大提高(gao)了(le)儀器(qi)的(de)穩定(ding)性和可(ke)靠性
采用(yong)同步(bu)正弦機(ji)構，波長(chang)準確(que)度高(gao)，重復(fu)性好
采用(yong)ARM系(xi)統(tong)
0.1/0.2/0.5/1.0/2.0/4.0六檔(dang)光譜(pu)帶(dai)寬自(zi)動可(ke)選(xuan),滿足不(bu)同用(yong)戶的(de)測量需(xu)求
24位(wei)高(gao)速(su)、高(gao)精度A/D轉換(huan)，儀器(qi)精度更(geng)高(gao)、反(fan)應(ying)速(su)度(du)更(geng)快
主(zhu)要(yao)元(yuan)件(jian)采用(yong)進(jin)口配置(zhi)，使(shi)儀器(qi)雜散光更低(di)、穩定(ding)性、可(ke)靠性更強(qiang)
功能(neng)更加(jia)強(qiang)大，主機(ji)可(ke)獨立完成(cheng)光度測量、定(ding)量(liang)測量、光譜(pu)掃描、動力(li)學(xue)、DNA/蛋(dan)白質測試，多(duo)波長(chang)測試及數據(ju)打印(yin)等功能(neng)
充分(fen)考(kao)慮不(bu)同用(yong)戶的(de)使(shi)用(yong)習(xi)慣(guan)，本(ben)系列(lie)儀器(qi)都(dou)標配(pei)元(yuan)析公(gong)司(si)光譜(pu)掃描軟件(jian)，聯(lian)機操(cao)作時，除(chu)能(neng)實(shi)現(xian)主(zhu)機的(de)所有測試功能(neng)外，還(hai)可(ke)實(shi)現(xian)更(geng)為強(qiang)大的(de)數據處(chu)理功能(neng)，並且(qie)使(shi)數(shu)據存儲(chu)達(da)到無(wu)限(xian)。